Коротковолновый инфракрасный диапазон (SWIR) представляет собой специально разработанную оптическую линзу, предназначенную для улавливания коротковолнового инфракрасного света, не воспринимаемого человеческим глазом напрямую. Этот диапазон обычно обозначает свет с длинами волн от 0,9 до 1,7 мкм. Принцип действия коротковолновой инфракрасной линзы основан на пропускающих свойствах материала для определенной длины волны света. Благодаря использованию специальных оптических материалов и технологии покрытия линза может эффективно проводить коротковолновое инфракрасное излучение, подавляя видимый свет и другие нежелательные длины волн.
Его основные характеристики включают в себя:
1. Высокий коэффициент пропускания и спектральная селективность:Линзы SWIR используют специализированные оптические материалы и технологию покрытия для достижения высокой прозрачности в коротковолновом инфракрасном диапазоне (от 0,9 до 1,7 мкм) и обладают спектральной селективностью, что облегчает идентификацию и проведение определенных длин волн инфракрасного света и подавление других длин волн света.
2. Химическая коррозионная стойкость и термическая стабильность:Материал и покрытие линз демонстрируют исключительную химическую и термическую стабильность и способны сохранять оптические характеристики в условиях экстремальных колебаний температур и различных условий окружающей среды.
3. Высокое разрешение и низкий уровень искажений:SWIR-объективы обладают высоким разрешением, малым искажением и быстрым откликом, что соответствует требованиям к изображениям высокой четкости.
Коротковолновые инфракрасные объективы широко используются в сфере промышленного контроля. Например, в процессе производства полупроводников коротковолновые инфракрасные объективы позволяют обнаруживать дефекты внутри кремниевых пластин, которые сложно обнаружить в видимом свете. Технология получения изображений в коротковолновом инфракрасном диапазоне может повысить точность и эффективность контроля пластин, тем самым снижая производственные затраты и улучшая качество продукции.
Коротковолновые инфракрасные линзы играют важнейшую роль в контроле полупроводниковых пластин. Поскольку коротковолновое инфракрасное излучение может проникать сквозь кремний, это свойство позволяет коротковолновым инфракрасным линзам обнаруживать дефекты в кремниевых пластинах. Например, пластина может иметь трещины, вызванные остаточными напряжениями, возникшими в процессе производства, и эти трещины, если их не обнаружить, напрямую повлияют на выход годных изделий и стоимость производства готовой микросхемы. Использование коротковолновых инфракрасных линз позволяет эффективно выявлять такие дефекты, тем самым повышая эффективность производства и качество продукции.
На практике коротковолновые инфракрасные объективы позволяют получать высококонтрастные изображения, делая даже мельчайшие дефекты заметно заметными. Применение этой технологии обнаружения не только повышает точность обнаружения, но и снижает стоимость и время ручного обнаружения. Согласно отчёту по исследованию рынка, спрос на коротковолновые инфракрасные объективы на рынке полупроводниковой детекции растёт из года в год и, как ожидается, сохранит стабильную траекторию роста в ближайшие несколько лет.
Время публикации: 18 ноября 2024 г.