Коротковолновое инфракрасное излучение (SWIR) представляет собой специально разработанную оптическую линзу, предназначенную для улавливания коротковолнового инфракрасного света, который непосредственно не воспринимается человеческим глазом. Эту полосу принято обозначать как свет с длиной волны от 0,9 до 1,7 микрона. Принцип работы коротковолновой инфракрасной линзы зависит от пропускающих свойств материала для определенной длины волны света, а с помощью специализированных оптических материалов и технологии покрытия линза может эффективно проводить коротковолновый инфракрасный свет, подавляя при этом видимый свет. свет и другие нежелательные длины волн.
Его основные характеристики включают в себя:
1. Высокий коэффициент пропускания и спектральная избирательность:В линзах SWIR используются специализированные оптические материалы и технология покрытия для достижения высокого коэффициента пропускания в коротковолновом инфракрасном диапазоне (от 0,9 до 1,7 микрон) и обладают спектральной селективностью, что облегчает идентификацию и проведение определенных длин волн инфракрасного света и подавление других длин волн света. .
2. Химическая коррозионная стойкость и термическая стабильность:Материал и покрытие линз демонстрируют исключительную химическую и термическую стабильность и могут сохранять оптические характеристики при экстремальных колебаниях температуры и различных условиях окружающей среды.
3. Высокое разрешение и низкий уровень искажений:Линзы SWIR обладают высоким разрешением, низким уровнем искажений и быстрым откликом оптических свойств, удовлетворяя требованиям визуализации высокой четкости.
Коротковолновые инфракрасные линзы широко используются в сфере промышленного контроля. Например, в процессе производства полупроводников SWIR-линзы могут обнаруживать дефекты внутри кремниевых пластин, которые трудно обнаружить в видимом свете. Технология коротковолновой инфракрасной визуализации может повысить точность и эффективность контроля пластин, тем самым снижая производственные затраты и повышая качество продукции.
Коротковолновые инфракрасные линзы играют жизненно важную роль в проверке полупроводниковых пластин. Поскольку коротковолновый инфракрасный свет может проникать в кремний, этот атрибут позволяет коротковолновым инфракрасным линзам обнаруживать дефекты внутри кремниевых пластин. Например, пластина может иметь трещины из-за остаточного напряжения во время производственного процесса, и эти трещины, если их не обнаружить, будут напрямую влиять на выход продукции и стоимость производства готовой интегральной схемы. Используя коротковолновые инфракрасные линзы, такие дефекты можно эффективно распознавать, тем самым повышая эффективность производства и качество продукции.
В практическом применении коротковолновые инфракрасные линзы могут создавать высококонтрастные изображения, делая заметными даже мельчайшие дефекты. Применение этой технологии обнаружения не только повышает точность обнаружения, но также снижает стоимость и время ручного обнаружения. Согласно отчету об исследовании рынка, спрос на коротковолновые инфракрасные линзы на рынке обнаружения полупроводников растет с каждым годом и, как ожидается, сохранит стабильную траекторию роста в ближайшие несколько лет.
Время публикации: 18 ноября 2024 г.