Коротковолновый инфракрасный (SWIR) представляет собой специально разработанную оптическую линзу, предназначенную для захвата коротковолнового инфракрасного света, который не воспринимается непосредственно человеческим глазом. Этот диапазон обычно обозначается как свет с длинами волн от 0,9 до 1,7 микрон. Принцип работы коротковолновой инфракрасной линзы зависит от свойств пропускания материала для определенной длины волны света, и с помощью специализированных оптических материалов и технологии покрытия линза может эффективно проводить коротковолновый инфракрасный свет, подавляя видимый свет и другие нежелательные длины волн.
Его основные характеристики включают в себя:
1. Высокий коэффициент пропускания и спектральная селективность:Линзы SWIR используют специализированные оптические материалы и технологию покрытия для достижения высокой прозрачности в коротковолновом инфракрасном диапазоне (от 0,9 до 1,7 мкм) и обладают спектральной селективностью, что облегчает идентификацию и проведение определенных длин волн инфракрасного света и подавление других длин волн света.
2. Химическая коррозионная стойкость и термическая стабильность:Материал и покрытие линзы демонстрируют исключительную химическую и термическую стабильность и способны сохранять оптические характеристики при экстремальных колебаниях температур и в различных условиях окружающей среды.
3. Высокое разрешение и низкий уровень искажений:Объективы SWIR демонстрируют высокое разрешение, низкий уровень искажений и оптическую реакцию, отвечая требованиям изображений высокой четкости.
Коротковолновые инфракрасные линзы широко используются в области промышленного контроля. Например, в процессе производства полупроводников линзы SWIR могут обнаруживать дефекты внутри кремниевых пластин, которые трудно обнаружить в видимом свете. Технология получения изображений в коротковолновом инфракрасном диапазоне может повысить точность и эффективность контроля пластин, тем самым снижая производственные затраты и улучшая качество продукции.
Коротковолновые инфракрасные линзы играют важную роль в инспекции полупроводниковых пластин. Поскольку коротковолновый инфракрасный свет может проникать через кремний, это свойство позволяет коротковолновым инфракрасным линзам обнаруживать дефекты внутри кремниевых пластин. Например, пластина может иметь трещины из-за остаточного напряжения в процессе производства, и эти трещины, если их не обнаружить, будут напрямую влиять на выход и стоимость производства окончательного готового чипа ИС. Используя коротковолновые инфракрасные линзы, такие дефекты можно эффективно распознавать, тем самым повышая эффективность производства и качество продукции.
В практических приложениях коротковолновые инфракрасные линзы могут предоставлять высококонтрастные изображения, делая даже мельчайшие дефекты заметно видимыми. Применение этой технологии обнаружения не только повышает точность обнаружения, но и снижает стоимость и время ручного обнаружения. Согласно отчету по исследованию рынка, спрос на коротковолновые инфракрасные линзы на рынке обнаружения полупроводников растет из года в год и, как ожидается, сохранит стабильную траекторию роста в ближайшие несколько лет.
Время публикации: 18 ноября 2024 г.